Kísérleti Szilárdtestfizikai Osztály (MTA Szilárdtestfizikai és Optikai Kutatóintézet)
résztvevők
Bortel Gábor Faigel Gyula Jurek Zoltán Oszlányi Gábor
projekt kezdete
2005-01-01
projekt vége
2009-12-31
aktuális összeg (MFt)
18.038
FTE (kutatóév egyenérték)
10.00
állapot
lezárult projekt
Zárójelentés
kutatási eredmények (magyarul)
Az atomi felbontású röntgen holográfia elméleti alapjait 1991-ben dolgoztuk ki és néhány ével később végeztük el az első sikeres kísérletet. Jelen pályázat fő célja az atomi felbontású röntgen holográfia és egy új, a holográfiával rokon mérési módszer, a szögátlagolt rugalmas szórás továbbfejlesztése és alkalmazása volt. Holográfia mérések segítségével kimutattuk, hogy a La0.7Sr0.3MnO3 kristály fázisátalakulásánál nem lép fel statikus Jahn-Teller torzulás, ahogy korábban feltételezték. Kísérleti adatokból megmutattuk, hogy a szögátlagolt szórás eredményeként kapott kép ugyanazt az információt hordozza, mint a hagyományos egykristály diffrakció során egyenként összegyűjtött intenzitás adatok. Megvalósítottunk egy újfajta elektron holográfia mérést egy erre a célra átépített pásztázó elektron mikroszkóp segítségével. Eredményeket értünk el a holografikus és diffrakciós kiértékelési módszerek továbbfejlesztése terén. Kidolgoztunk egy eljárást a kis intenzitású szórásképek osztályozására a röntgen szabadelektron lézereknél egyedülálló molekulákon végzendő szóráskísérletekhez.
kutatási eredmények (angolul)
The theoretical foundations of atomic resolution x-ray holography were developed in 1991, and followed by the first successful experiment a few years later. The aim of the present project was the further development and application of the atomic resolution x-ray holography and a new related method, the angular integrated elastic scattering. Based on holography measurements, we have shown that in spite of earlier predictions, no static Jahn-Teller distortion occurs at the phase transition of the La0.7Sr0.3MnO3 crystal. We have shown from experimental data that the angular integrated elastic scattering pattern contains the same information as the intensity data of the conventional x-ray diffraction experiments. A novel electron holography experiment was realized using a scanning electron microscope modified for this purpose. Further development of holographic and diffraction evaluation methods was achieved. We have also developed a new method for the classification of low-intensity diffraction patterns for the single molecule imaging experiments of the x-ray free electron lasers.
Gabor Bortel, Miklos Tegze and Gyula Faigel: Structure factors from pseudo-Kossel line patterns, Journal of Applied Crystallography 38, 780–786, 2005
M. Tegze, G. Faigel, G. Bortel, S. Marchesini, M. Belakhovsky, A. Simionovici: X-ray holography: Atoms in 3D, Journal of Alloys and Compounds 401 , 92–98, 2005
Tegze Miklós: Röntgenholográfia: atomok három dimenzióban, Fizikai Szemle LV, 91-96, 2005
Miklós Tegze: Effect of low-pass filtering on atomic-resolution x-ray holography, Phys. Rev. B 73, 214104, 2006
Gábor Oszlányi, András Sütő, Mátyás Czugler, and László Párkányi: Charge Flipping at Work: A Case of Pseudosymmetry, J. Am. Chem. Soc. 128, 8392, 2006
G. Faigel, G. Bortel, C. S. Fadley, A. S. Simionovici, M.Tegze: Ten years of x-ray holography, X-ray Spectrometry 36, 3, 2007
G. Faigel, G. Bortel and M.Tegze: Hard X-ray Holographic Methods: Instrumentation and Experimental Technique, Proc. of the NATO Advanced Research Workshop: Brilliant Light Facilities and Research in Life and Material Sciences, July 17-21, 2006, Yerevan, Armenia, (Springer) p. 383, 2007
Gabor Bortel, Gyula Faigel and Miklos Tegze: Classification and averaging of random orientation single macromolecular diffraction patterns, Journal of Structural Biology 166, 226-233, 2009
