Fehérje és nanokristályos félvezető rétegek szenzorikához és fotovoltaikához  részletek

súgó  nyomtatás 
vissza »

 

Projekt adatai

 
azonosító
91205
típus K
Vezető kutató Petrik Péter
magyar cím Fehérje és nanokristályos félvezető rétegek szenzorikához és fotovoltaikához
Angol cím Protein and nanocrystalline semiconductor layers for sensors and photovoltaics
magyar kulcsszavak fehérje, nanokristály, ellipszometria, OWLS, ionsugaras analitika
angol kulcsszavak protein, nanocrystal, ellipsometry, OWLS, ion beam analysis
megadott besorolás
Elektronikus Eszközök és Technológiák (Műszaki és Természettudományok Kollégiuma)70 %
Anyagtudomány és Technológia (gépészet-kohászat) (Műszaki és Természettudományok Kollégiuma)30 %
Ortelius tudományág: Nanotechnológia (Anyagtechnológiák)
zsűri Informatikai–Villamosmérnöki
Kutatóhely MTA Műszaki Fizikai és Anyagtudományi Kutatóintézet
résztvevők Fodor Bálint
Horváth Róbert
Kurunczi Sándor
Zolnai Zsolt
projekt kezdete 2010-02-01
projekt vége 2013-01-31
aktuális összeg (MFt) 7.032
FTE (kutatóév egyenérték) 3.26
állapot lezárult projekt
magyar összefoglaló
A project célja (1) fehérje és nanokristályos félvezetőrétegek immobilizációjának és leválasztásának tökéletesítése, valamint (2) az in situ Spektroszkópiai Ellipszometria (SE), az Optikai Hullámvezető Fénymódus Spektroszkópia (OWLS) és az ionsugaras analitika fejlesztése a rétegépülés jobb megértése és a rétegkészítési módszerek optimalizálása céljából. Az SE, OWLS és ionsugaras analitikai módszereket továbbfejlesztjük és összehasonlítjuk. Feltérképezzük a módszerek határait, és hogy milyen információkat szolgáltatnak a rétegszerkezettel kapcsolatban. Az így megszerzett tudást többek között az intézetünkben végzett bioszenzorikai és fotovoltaikus anyagtudományi fejlesztésekben fogjuk hasznosítani. Mind a két nanoszerkezet típust folyadékcellában vagy Langmuir-Blodgett technikával állítjuk elő az intézetben, a rétegépülést pedig optikai módszereinkkel nyomonkövetjük. A bioszenzorika területén elsősorban egy speciális fehérjét, a flagelláris filamentumot szeretnénk vizsgálni. A félvezető nanokristály rétegeket kolloid oldatokból szeretnénk előállítani. A javasolt munka futó EU FP6 (ANNA – http://www.i3-anna.org) és elnyert EU FP7 (P3SENS) EU projekteket is támogat, csakúgy mint számos egyéb hazai és külföldi egyetemmel, kutatóintézettel és (főként hazai) technológiai céggel végzett együttműködést. Jelenleg két PhD, két dipoma és két TDK munka folyik laboratóriumunkban a témában. A megpályázott munka hozzájárulna intézetünk fejlődéséhez mind az optikai metrológia, mind a szenzorikai és fotovoltaikus célú rétegkészítési módszerek fejlesztése terén.
angol összefoglaló
The aim of this project is (1) to improve our methods to deposit and immobilize protein and nanocrystalline semiconductor layers, and (2) to develop in situ Spectroscopic Ellipsometry (SE), Optical Waveguide Lightmode Spectroscopy (OWLS), and ion beam analysis in order to gain deeper understanding on protein and nanocrystalline semiconductor layer build-up, providing valuable feed-back for the optimization of the preparation techniques. SE, OWLS, and ion beam techniques will be investigated and compared in terms of their limitations and the information they provide on the layer structure. This knowledge will be used to improve biosensors and photovoltaic thin films being developed in our institute. Both types of nanostructures will be created using deposition techniques including liquid cells or the Langmuir-Blodgett method, using our optical techniques to follow the layer build up in situ. In case of biosensors we focus on a special protein (flagellar filaments), whereas semiconductor nanocrystal layers will mainly be prepared from colloidal solutions. The proposed work is connected to running EU FP6 (ANNA – http://www.i3-anna.org) and accepted EU FP7 (P3SENS) EU projects, and further cooperations with numerous domestic and foreign universities, research institutes, and companies. Currently two PhD, two diploma, and two TDK works are running on this topic in our laboratory. The proposed work will improve the capabilities of our institute in both optical metrology and preparation of high quality thin films for sensorics and photovoltaic applications.





 

Projekt eseményei

 
2012-04-13 10:54:12
Résztvevők változása




vissza »